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  2. 浙江朗通精密儀器有限公司
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    • 發布時間: 2017 - 08 - 27
      長度測量誤差E0自1.5 + L/350 μm起測量范圍XYZ7/7/67007006007/10/67001,00060010/12/61,0001,20060010/16/61,0001,6006009/12/89001,2008009/16/89001,60080012/18/101,2001,8001,00012/24/101,2002,4001,000
      CONTURA長度測量誤差E0自1.5 + L/350 μm起測量范圍XYZ7/7/67007006007/10/67001,00060010/12/61,0001,20060010/16/61,0001,6006009/12/89001,2008009/16/89001,60080012/18/101,2001,8001,00012/24/101,2002,4001,000探頭類型CONTURA可配備固定型被動式探頭、靈活的蔡司RDS關節式探頭座或主動式掃描測針。各類探頭均具有掃描功能。主動式探頭采用蔡司navigator技術——測量。穩定的測量結果根據配置不同,CONTURA采用工業陶瓷或CARAT導軌,具有剛性 、較低的熱膨脹性和輕盈的機身重量。三軸均采用四面環抱氣浮軸承,可在高速運行和加速的條件下保持穩定性。懸浮安裝在CONTURA導軌上的玻璃陶瓷光柵尺具有接近零膨脹特性,因此無需安裝溫度傳感器或進行誤差補償。高等級的防護特性使得該機器可以在生產車間使用。計算機輔助精度修正(CAA)動態形變的橋架直接影響測量精度,尤其是在掃描測量時更是如此。CONTURA可計算這一動態效應所需的補償值。因此在高速測量環境下測量精度??刂坪啽阌脩魺o需計算機,只需借助界面友好的控制面板即可對系統進行控制。通過搖桿可對所有軸的運動進行更為便捷與控制??稍贑NC模式下對速度進行調節。選項HTG(寬...
    • 發布時間: 2017 - 08 - 28
      測量范圍500 x 500 x 600700 x 700 x 600700 x 1000 x 600可配置的傳感器ZEISSXDTRDS-C5VAST XXT
      SPECTRUM II升級,讓測量結果更可靠、掃描型SPECTRUM是一款配有蔡司掃描探頭和軟件技術三坐標測量機。主要性能  “掃描”升級 效率提升,SPECTRUM讓接觸式掃描測量技術成為蔡司全系列測量設備的標準配置,蔡司三坐標測量來到了“全掃描”的時代。SPECTRUM采用的掃描技術,可以獲得更全面的輪廓信息,相比單點觸發測量能夠獲得更可靠性和重復性,可以控制工件質量及提高生產成本。量身定制 體現為滿足不同客戶的測量需求,SPECTRUM三坐標測量機專門為用戶量身定制??梢源钆淙畈煌臏y頭:觸發式測頭直接式掃描測頭及旋轉測頭同時配備了蔡司的RDS-CAA技術,僅需一次校準,即可使用全部5184個角度位置,大大減少了探針校準時間,滿足了市場上對于測量的更快生產力的需求。軟硬結合除了穩定性和可靠性,SPECTRUM在軟件方面搭配功能強大的CALYPSO軟件。圖形化的測量編程平臺讓操作者更容易上手,并且能夠大幅提高編程效率;圖形化的測量報告系統能夠讓質量管理者更直觀地進行產品測量結果的管控。SPECTRUM在工業領域有著廣泛的應用,適合小型外殼、沖壓件、數控加工零件及塑料件的檢測;此外在醫療和電子行業也可以滿足客戶的檢測需求。測量范圍500 x 500 x 600700 x 700 x 600700 x 1000 x 600可配置的傳感器ZEISSXDTRDS-...
    • 發布時間: 2017 - 08 - 29
      自0.7 + L/400 μm起測量范圍XYZ5/5/5500500500
      MICURA自0.7 + L/400 μm起測量范圍XYZ5/5/5500500500小型化與高精度工業生產中的零部件日趨小型化,同時對測量精度的要求也在不斷提高,MICURA正是針對這一需求定制的解決方案。MICURA采用蔡司VAST XT gold掃描探頭與navigator技術, 可在主動式掃描時獲得微米級的測量精度。它尤其適于測量用于光學和電子產品的結構復雜的小型工件。盡管采用緊湊型設計,系統卻具備500 x 500 x 500毫米的測量能力——性能穩定的產品。高速掃描蔡司VAST XT gold探頭具有高速掃描功能,除可在短時間測定幾何特征外,還可精準測量及評定形狀誤差如圓度、平面度等特性。探針最小直徑僅為0.3毫米??焖賿呙瑁篤AST navigator navigator可獲取精準的測量結果。navigator技術是為蔡司所研發的高速高精度掃描技術。智能優化參數設定以確保測量的精準度。得益于切線逼近掃描、螺旋掃描和測針快速動態校準等功能,可進一步縮短測量時間。計算機輔助精度修正(CAA) navgator可實現對測量機動態誤差的有效補償,從而確保即便于高速掃描過程中仍可獲得測量精度。操作與人體工學設計控制面板,配備LCD顯示屏及雙手柄控制面板,使用方便快捷。成熟的設計工業陶瓷導軌和大型軸承座可將外界環境的影響降低四面環抱的蔡司氣浮軸承確保更好的穩定...
    • 發布時間: 2017 - 08 - 29
      長度測量誤差E0自1.2 + L/350 μm起測量范圍XYZ9/12/89001,2008009/16/89001,60080012/18/81,2001,80080012/24/81,2002,40080012/18/101,2001,8001,00012/24/101,2002,4001,00012/30/101,2003,0001,00012/42/101,2004,2001,00016/24/101,6002,4001,00016/30/101,6003,0001,00016/42/101,6004,2001,00016/24/151,6002,4001,50016/30/151,6003,0001,50016/42/151,6004,2001,50020/24/102,0002,4001,00020/30/102,0003,0001,00020/42/102,0004,2001,00020/24/152,0002,4001,50020/30/152,0003,0001,50020/42/152,0004,2001,500靈活選擇由于采用模塊式設計理念,ACCURA足以勝任未來的測量需求。它能根據您對測量設備、探頭和軟件的需求不斷成長。ACCURA針對接觸式和光學式探頭以及掃描模塊預設線纜,因而可立即配備多探頭運行。重量更輕,速度更快ACCURA 橋架采用鋼和鋁制結構,具...
      ACCURA長度測量誤差E0自1.2 + L/350 μm起測量范圍XYZ9/12/89001,2008009/16/89001,60080012/18/81,2001,80080012/24/81,2002,40080012/18/101,2001,8001,00012/24/101,2002,4001,00012/30/101,2003,0001,00012/42/101,2004,2001,00016/24/101,6002,4001,00016/30/101,6003,0001,00016/42/101,6004,2001,00016/24/151,6002,4001,50016/30/151,6003,0001,50016/42/151,6004,2001,50020/24/102,0002,4001,00020/30/102,0003,0001,00020/42/102,0004,2001,00020/24/152,0002,4001,50020/30/152,0003,0001,50020/42/152,0004,2001,500靈活選擇由于采用模塊式設計理念,ACCURA以勝任未來的測量需求。它能根據您對測量設備、探頭和軟件的需求不斷成長。ACCURA針對接觸式和光學式探頭以及掃描模塊預設線纜,因而可立即配備多探頭運行。重量更輕,速度更快ACCURA 橋架采用鋼和鋁...
    • 發布時間: 2017 - 08 - 29
      長度測量誤差E0自0.5 + L/500 μm起測量范圍XYZ7/9/57009005007/9/77009007009/12/79001,2007009/15/79001,5007009/18/79001,8007009/24/79002,40070012/18/101,2001,8001,00012/24/101,2002,4001,00012/30/101,2003,0001,00012/42/101,2004,2001,00016/24/101,6002,4001,00016/30/101,6003,0001,00016/42/101,6004,2001,000
      ZEISS PRISMO長度測量誤差E0自0.5 + L/500 μm起測量范圍XYZ7/9/57009005007/9/77009007009/12/79001,2007009/15/79001,5007009/18/79001,8007009/24/79002,40070012/18/101,2001,8001,00012/24/101,2002,4001,00012/30/101,2003,0001,00012/42/101,2004,2001,00016/24/101,6002,4001,00016/30/101,6003,0001,00016/42/101,6004,2001,000掃描:VASTPRISMO 可獲取的測量結果。navigator技術是為蔡司所研發的高速高精度掃描技術。智能優化參數設定以測量的精度。得益于切線逼近掃描、螺旋掃描和測針快速動態校準等功能,可進一步縮短測量時間。計算機輔助精度修正(CAA)PRISMO 可實現對測量機動態誤差的有效補償,從而確保即便于高速掃描過程中仍可獲得測量精度。在線測量PRISMO亦適用于貼近于生產區域的在線測量,有效避免往返實驗室的周折,得益于蔡司對于關鍵組件的多年研發經驗。機械技術采用碳纖維和工業陶瓷材質的橋框擁有輕質化的結構和抗扭強度不受溫度影響的玻璃陶瓷光柵尺技術所有軸向均采用蔡司四面環抱軸承技術。減振系統以及采用全...
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    ZEISS 你知道放大80倍后粉末是什么樣子的嗎?

    日期: 2019-03-28
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    ZEISS 你知道放大80倍后粉末是什么樣子的嗎?


    ? ?蔡司工業測量是三坐標測量機生產商而且蔡司顯微鏡在各領域廣泛使用

    ? ?體積密度和流動特性是對基于粉末技術的生產工藝(如添加劑激光粉末床熔融工藝)所用粉末進行表征的兩大重要參數,因為這些參數從本質上決定了粉末在各種生產過程中的可加工性。

    [1]對用于處理粉末、應用粉末層的基于粉末床的添加劑生產工藝來說,良好的流動特性尤為重要,而高體積密度對于制造非多孔元件極其重要。

    [2],[5] 光學和掃描電子顯微鏡與ZEISS ZEN 2core 軟件中的圖像分析工具結合使用,可以高效地對粉末進行表征并確定其質量。

    ? ?粉狀散裝材料的特性表征

    ? ?使用光學和掃描電子顯微鏡

    簡介

    ? ?粉末的體積密度和流動特性主要由粉末的形態、形貌、粒度分布和顆粒內部結構決定。球形顆粒具有較好的流動特性,但不規則或針狀顆粒由于顆粒間可能存在連鎖過程,其流動特性較差。然而,對球形顆粒做更詳細的檢查后可能會發現如果其表面結構較為粗糙,則會產生很大的摩擦力,當粉末流動或被壓實時,摩擦力會極大地影響粉末的運動。[4]細顆粒占比較高的干粉也會以范德瓦耳斯互作用的形式在各個顆粒之間產生高粘附力,這同樣會限制粉末的流動性。[3]此外,顆粒內部結構對粉末的體積密度和穩定性有著決定性的影響。例如,內部孔隙降低了顆粒的體積密度和穩定性。[4]當測試粉末的適用性或相互比較不同的粉末時,必須檢查諸如形態、形貌、粒度分布和內部結構等關鍵因素,以確定它們是否適合后續的生產過程。

    實驗

    ? ?有兩種成分相同但體積密度差別較大的碳化鎢鈷粉可供試驗。


    ? ?這兩種粉末的體積密度按DIN EN ISO 3923:2010來確定,而流動性按DIN EN ISO 13517:2013來測定,具體見表1。

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    ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ?△表1 體積密度測試和流動性測試的結果


    ? ?利用ZEISS Axio Zoom.V16立體變焦顯微鏡,將粉末放在透射光下放大80倍進行檢查,以研究其體積密度的差異。將幾克特定的粉末均勻分布在皮矢培養皿中,然后使用ZEISS ZEN 2 core的軟件功能創建大面積平鋪圖像,以確保每次分析至少有6000個顆粒。定義一個具有3 x 3獨立圖像的區域。在定義了類別和測量框架后,借助集成圖像分析工具,通過灰度閾值化進行自動分割。如果分割錯誤,還可以在分析之前以交互方式進行糾正。將等效直徑作為確定的測量特性進行測量,它與面積相等的理想圓形顆粒的直徑相對應,用于確定顆粒尺寸以及費雷特比例(即最小與最大費雷特直徑之比,可提供顆粒球形度有關的信息)。圖1顯示了采用ZEISS ZEN 2 core所提供的圖像分析工具在透射光下對某粉末進行分割前(左)和自動分割后(右)的截圖。

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    △圖1 ?采用ZEISS ZEN 2 core圖像分析工具進行表征的粉末;左:未分割,LM,80×;

    右:分割后,LM,80×


    ? ? 利用經研究和圖形化描述的許多顆粒(大于6000個對象),可以確定顆粒的粒度分布和費雷特比例分布;參見圖2。

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    △圖2 ?左:粒度分布;右:費雷特比例分布(對比WC-Co粉末1和粉末2)


    ? ?考慮到顆粒的粒度分布和費雷特比例分布,體積密度的差異應歸因于顆粒的內部結構,因為兩個曲線的差異非常小。因此,我們使用ZEISS Crossbeam 550聚焦離子束掃描電子顯微鏡(FIB ?SEM)對顆粒進行了進一步的檢測。將粉末分散在樣品架上,樣品架涂有碳膠并濺射金鈀層以確保具有良好的導電性。圖3是概覽圖,而圖4是對比兩種WC-Co粉末的詳圖。


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    △圖3 WC-Co顆粒的概覽圖;左:粉末1,SEM,BSE信號,250×;右:粉末2的概覽圖,SEM,BSE信號,250×


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    △圖4 WC-Co顆粒的形貌詳圖;左:粉末1,SEM,BSE信號,2500×;右:粉末2,SEM,BSE信號,2500×


    ? ?從概覽圖和詳圖中都可以清楚地看到:粉末1具有向外開放的孔隙,粉末2具有向外封閉的顆粒表面。粉末2的表面結構也明顯較細,原因在于其WC粒度較小。為了表征顆粒內部結構,使用 ZEISS Crossbeam 550對每一種粉末將FIB截面放在隨機選取的顆粒中間。圖5中顯示了用于比較的圖像。檢查圖像表明:粉末1的內部孔隙率已經遠遠高于粉末2。

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    △圖5 ?顆粒內部FIB截面;左:內部孔隙率較高的粉末1,FIB,2500×;右:內部孔隙率較低的粉末2,FIB,2500×


    ? ?為了定量測定孔隙率,在環氧樹脂中添加幾克粉末來制備樣品,然后使用Struers Tegramin-30系統進行各種研磨和拋光步驟來制備樣品。在研磨和拋光過程中對顆粒進行切割,這樣可以看到其內部結構。為保證金相拋光樣品的導電性,進行了濺射鍍層工藝以沉積金鈀層,最后用ZEISS Sigma 300VP場發射掃描電子顯微鏡(FE-SEM)觀察樣品。圖像的像素大小為50nm,以觀察到最少10個像素的待檢測孔隙。另外,還使用了ZEISS ZEN 2 core軟件中的圖像分析工具進行了補充分析。采用了兩個灰度閾值的分層分割法,首先使用一個灰度閾值分割顆粒(紅色),然后再分割內部孔隙(藍色)。圖6顯示了用于圖像分析的類別。

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    △圖6 ?ZEISS ZEN 2 core 圖像分析工具;各類別的層級結構


    ? ?定義待測定的測量特性為各個顆粒的面積以及內部孔隙的面積。為特定顆粒分配孔隙后,就可以確定內部孔隙率,從而計算出所檢測每種粉末中20個顆粒的平均孔隙率。圖7顯示了使用ZEISS ?ZEN 2 core軟件的圖像分析工具觀察SEM圖像和相關分割圖像的截面。粉體1的孔隙率明顯較高。

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    △圖7 定量測定孔隙率;左上:粉末1,SEM,BSE信號,像素尺寸:50 nm;右上:粉末2,SEM,BSE信號,像素尺寸:50 nm;左下:分割后的粉末1, ?右下:分割后的粉末2


    ZEISS  你知道放大80倍后粉末是什么樣子的嗎?

    △表2 ?不同WC-Co粉末的孔隙率分析結果


    ? ?粉末1的體積密度低20%以上,這可以用平均孔隙率高30%來解釋。由于兩種粉末具有球形顆粒形狀,它們的流動性幾乎相同。粉末2的流動性較好一些,這是由于其表面形貌較好,顆粒間摩擦較小所致。


    總結

    粉末特征描述表明:使用光學和掃描電子顯微鏡可以對粉末進行幾乎完全的表征。ZEISS ZEN 2 Core軟件的圖像分析工具還可以對光學顯微鏡和掃描電子顯微鏡的圖像進行定量的層級評估??梢酝ㄟ^灰度閾值化,對顆粒、孔隙和相進行自動分割、校正和分析。特別是利用自動分割功能,可以同時分析多個顆粒,從而快速可靠地提供有關粉末質量的統計信息。浙江朗通作為蔡司的官方授權代理竭誠為您服務,歡迎致電13362177588咨詢。


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    2019 - 06 - 28
    2019年06月20日,為期兩天的國際汽車動力傳動系統制造工程大會在重慶圓滿閉幕。應對汽車柔性化、智能化、數字化等需求,蔡司向與會來賓展示了數字化3D掃描系統、蔡司三坐標、工業CT等一體化解決方案,現場交流熱烈,沉淀的技術經驗與對未來發展趨勢的預見不斷碰撞出智慧的火花。從常規能源到新能源汽車的演變無疑聚焦了更多嘉賓的目光,如何從質量檢測的角度迎合這些變化及需求?蔡司質量解決方案恰到好處地對這些做出了精確定義及完美詮釋,以下精彩不容錯過……蔡司工業工業CT亮點1殼體齒輪一體化測量平臺齒輪作為核心的傳動部件,其質量及精度對于汽車的動力表現至關重要,坐標測量機不僅限于變速箱殼體的尺寸測量,兼顧齒輪測量更彰顯其全面特性,諸如高精度主動式掃描測頭、四軸聯動轉臺、PTB認證齒輪測量軟件GEAR PRO等為專業化齒輪測量保駕護航?!髯兯倨鼾X輪測量分析亮點2來給工件做做全身CT擔憂工件內部質量問題?從發動機缸蓋缸體到新能源汽車電機殼體、從連接器到動力電池、從焊接及鑄件缺陷到內部尺寸的測量、從實驗室應用到在線檢測, 把工件放置到CT工作臺轉上一圈,蔡司工業CT讓工件內部質量問題無處藏身?!麟姍C殼體及線圈焊接缺陷分析亮點3百花齊放的光學測量隨著測量技術及光電器件的發展,光學非接觸式高效測量已然成為新的發展方向,包括視像、激光三角法、共聚焦白光、條紋藍光等多樣化測量方法不斷涌現,呈現出百花齊放的新氣象,...
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    2019 - 10 - 31
    10月15日,縉云縣人民政府與卡爾蔡司(上海)管理有限公司戰略合作協議在浙江縉云正式簽訂,開啟了《蔡司-縉云聯合工業測量實驗室》的共建之路。蔡司工業質量解決方案市場總監王寅先生出席簽約儀式并代表蔡司簽約。未來,蔡司將為該實驗室提供一系列精密光學和測量儀器,包括蔡司電子顯微鏡、蔡司三坐標測量機、蔡司藍光掃描儀等?!鳌恫趟?縉云聯合工業測量實驗室》戰略合作協議簽訂現場作為精密計量型設備,ZEISS PRISMO 設立了高速掃描測量技術,其測量精度、運動特性和環境耐受力。多探頭系統具有測量速度快,測量精度高等特點,能為您提供測量領域多方位服務,為您奠定高效生產的堅實基礎。集成Navigator技術的VAST主動掃描探頭和與RDS旋轉測座連接的各種探頭,是您進行各種測量任務的理想選擇。蔡司掃描電鏡EVO 10做到了一機多用,不僅具有傳統電鏡的功能、臺式電鏡的工作速度、友好的用戶界面,同時還具備了X射線幾何設計、兼顧圖像質量與能譜分析的計數率。本次簽約儀式在中國鋸床和特色機械裝備產業創新峰會暨2019麗水“人才·科技”峰會縉云分會同期。該峰會吸引了來自各地能制造領域的專家、學者、企業齊聚一堂,共同探討智能裝備的前沿科技和發展趨勢,并見證了浙江省縉云鋸床和特色機械裝備產業創新服務綜合體的正式啟用?!翱N云地區在鋸床和特色機械裝備產業方面的獨特優勢,與蔡司在工業質量解決方案方面的業務可以...
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    2020 - 07 - 20
    作為“現代工業皇冠上的明珠”,航空發動機無疑是高新技術中的尖端代表,精密程度甚至能夠達到“零差錯”。航空發動機的零部件種類繁多、結構復雜,其核心部件包括葉片、整體葉盤、葉輪、傳動軸、結構件、進氣道等,每個部件都必須達到嚴格的檢測要求。蔡司的一站式解決方案,能夠充分滿足航空發動機多樣化的測量要求。                      ——ZEISS DotScan——     蔡司三坐標的DotScan用來測量單葉片高精度非接觸檢測方案也是測量自由曲面和細微結構的選擇。DotScan 采用色階共聚焦白光探頭,特別適用于測量敏感、柔軟、具反射性或低對比度的表面。配合使用轉臺,4軸的測量工作也可勝任。  對于葉盤、葉輪等回轉類零部件的檢測,蔡司能夠提供高精度轉臺的四軸聯動方案,既保證了精度,又大大提高了檢測效率。針對傳動軸、機匣等大型工件的高精度測量,蔡司能夠提供各種不同量程的臺式、橋式和龍門式測量機,包括蔡司ACCURA和整個蔡司MMZ產品系列。

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